磁共振弥散张量成像评价新生儿脑损伤

• 作者: 王华伟
• 来源期刊: 中国小儿急救医学
• 关键词: 弥散张量成像 脑发育 脑白质 脑损伤 新生儿
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 586-589
• 页数: 4页
• 字数: 4660字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.1673-4912.2014.09.013

摘要

磁共振弥散张量成像技术(diffusion tensor imaging,DTI)是一种无创性的磁共振成像方法,通过计算表观弥散系数、各向异性系数、相对各向异性系数、纵向弥散系数等参数能够定量评价脑组织正常结构、脑发育状况与脑损害,是目前唯一可在活体上观察脑白质纤维走行及微结构变化的成像技术.本文对其在评价新生儿脑损伤与脑发育中的应用进展予以介绍.