空穴注入法掺杂对La2-xSrxCu0.94Ti0.06O4体系微结构的影响

• 作者: 王彩霞
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 铜基超导材料 X光衍射 红外和拉曼光谱
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 页码范围: 178-184
• 页数: 7页
• 语种: 中文

摘要

本文首先在最佳掺杂的La1.85Sr0.15CuO4体系中用6％的Ti4+取代Cu2+使其超导电性完全消失,然后用空穴注入法掺杂成功地合成了La2-xSrCu0.94Tio.06O4(0.15≤x≤0.39)系列多晶样品,并用X光衍射、红外透射光谱和拉曼光谱等实验手段对样品的结构、微结构以及样品中CuO6八面体的振动模进行了系统地研究.红外透射光谱和拉曼光谱测量研究结果表明,被注入的空穴将补偿那些围绕在杂质Ti周围的电子,这将导致Ti的有效价态降低并弱化CuO2面上的不对称性,使那些近邻杂质的被局域化的空穴重新变成巡游载流子,进而将重新开始对超导电性负责.

作者信息

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1	王彩霞		6	0	0.0	0.0