一种用于合成试验中预测短路电流零点的方法

• 作者: 何健 刘平 刘朴 李鹏 高飞
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 高压断路器 合成试验 预测 电流零点
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 57-62
• 页数: 6页
• 分类号: TM561
• 语种: 中文

摘要

笔者针对大容量开关电器试验用Weil合成试验回路,给出了一种基于递推形式的电流零点预测方法,并且分析了这种电流零点预测方法的误差来源和误差消除的方法.为了验证该方法的准确性,笔者研制了一个应用于合成试验回路的DSP测控系统,并对过零点预测算法进行了实验验证.实验测试表明,文中所提的电流零点预测方法是准确的,相关测控系统的软硬件实现方式是可行的,具有实际应用价值.