斜测电离图 F2层描迹的自动判读

• 作者: 姜春华 宋欢 胡耀垓 赵正予
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 地球科学
• 关键词: 电离图 自动判读 描迹提取 斜测 形态学算子 反演
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 49-53,87
• 页数: 6页
• 分类号: P352
• 语种: 中文
• DOI: 10.13245/j.hust.140911

摘要

将数字图像处理中的形态学算子和反演技术相结合，发展了一种新的斜测电离图 F2层描迹自动判读方法．该方法从电离图预处理、电离图描迹提取和参数提取三大模块出发，实现了斜测电离图F2层描迹的自动判读，并用实际探测数据进行了验证及统计分析．结果显示：该方法适用于不同高角波状态的斜测电离图，能够快速、准确地拟合F2层寻常波描迹且不受毛刺的影响，并且提取的F2层最大可用频率和最小群路径的可接受率分别为95．1％和92．7％，表明该方法具有较好的可靠性、通用性，能有效应用于电离层实时斜测研究领域．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵正予	武汉大学电子信息学院	156	658	13.0	15.0
2	胡耀垓	武汉大学电子信息学院	25	134	6.0	11.0
3	姜春华	武汉大学电子信息学院	17	22	2.0	4.0
4	宋欢	武汉大学电子信息学院	5	5	1.0	1.0