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摘要:
图形处理器流水线中经典的点生成算法和点反走样算法便于实现,但采样点测试的计算量大并且存在冗余测试,为此提出了多采样扫描转换算法。该算法将多采样集中在边界片元,同时,利用点区别于其他图元的对称特性,减少了采样点的冗余测试,提高了多采样时扫描转换的性能。试验结果表明:文中算法在较小代价下达到了同样的反走样性能。
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文献信息
篇名 点光栅化及反走样算法的研究与实现
来源期刊 河南科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 点图元 光栅化 反走样 图形处理器
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 电工电信、自动化与计算机
研究方向 页码范围 43-48
页数 6页 分类号 TP302
字数 3695字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蒋林 西安邮电大学研究生部 85 264 8.0 10.0
2 韩俊刚 西安邮电大学计算机学院 113 703 14.0 20.0
3 王媛媛 西安邮电大学电子工程学院 1 1 1.0 1.0
4 张娜 西安邮电大学电子工程学院 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
点图元
光栅化
反走样
图形处理器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
河南科技大学学报(自然科学版)
双月刊
1672-6871
41-1362/N
大16开
河南省洛阳市开元大道263号
36-285
1980
chi
出版文献量(篇)
3214
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7
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19453
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