高压下 ZnTe 的电子结构和光电性质

• 作者: 何开华 胡永金
• 来源期刊: 高压物理学报
• 关键词: 密度泛函理论 电子结构 光电性质 高压
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 641-647
• 页数: 7页
• 分类号: O521.2|O472
• 语种: 中文
• DOI: 10.11858/gywlxb.2014.06.001

摘要

应用第一性原理平面波赝势计算方法,研究了闪锌矿 ZnTe 晶体在外界压力下的电子结构和光电性质,并计算了介电函数和光学吸收系数随压力的变化情况。结果表明：在高压作用下,Te 原子和 Zn 原子的态密度分布都向低能量方向移动,分布范围增大,Te 5p 和 Zn 3d电子轨道杂化变强。随着压力的增大,直接带隙逐渐增大,而间接带隙逐渐变小。当压力为10.7 GPa 时,能带结构从直接带隙转变为间接带隙结构。压力增大,有利于 Te 5p 与 Zn 3d电子间的跃迁,光吸收系数增大,产生更多的电子-空穴对,材料导电能力增强。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何开华		18	131	6.0	11.0
2	胡永金		1	0	0.0	0.0