侵彻过载高速存储测试的研究与实现

• 作者: 孙远程 苗江宏 高进忠 黄玉川
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储测试 侵彻过载 SPI串行总线
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 太赫兹科学技术
• 页码范围: 813-816
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.7
• 字数: 2514字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201406.0813

摘要

针对混合型单片机应用中数据捕获率不足问题，在分析其机理及原因基础上，采用外置高速模数转换器(A/D)与单片机的串行通用接口(SPI)构成串行采集存储结构。利用单片机所提供的时钟源将数据捕获率由200 ksps提高到780 ksps，在此基础上提出了三轴过载测量总体方案。研究结果表明，通过提高 SPI总线时钟速率，可将数据捕获率进一步提高到2.5 Msps，这将作为今后的研究方向。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙远程	中国工程物理研究院电子工程研究所	16	53	5.0	6.0
2	高进忠	中国工程物理研究院电子工程研究所	6	21	2.0	4.0
3	黄玉川	中国工程物理研究院电子工程研究所	1	1	1.0	1.0
4	苗江宏	中国工程物理研究院电子工程研究所	2	7	1.0	2.0