孔洞型储层电阻率理论模拟及影响因素

• 作者: 张兆辉 高楚桥 高永德
• 来源期刊: 西南石油大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 孔洞型储层 孔隙结构 物理模型 理论模拟 电阻率
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TE132
• 字数: 2149字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11885/j.issn.1674-5086.2012.08.30.14

摘要

碳酸盐岩储层导电机理复杂，电阻率影响因素众多，储层划分及流体性质识别难度较大。通过构建合理的孔隙结构物理模型，理论模拟储层电阻率，并对各种影响因素（喉道粗细、地层水电阻率、岩石基质电阻率、孔洞延展方向及大小等）逐一进行分析，进一步探讨了各因素对电阻率的影响程度，较好地解释了电阻率异常层的成因。孔洞型储层电阻率随喉道直径增加快速下降，而随基质、地层水电阻率增加而增大；平行电流方向的孔洞延展对电阻率的影响高于垂直电流方向的孔洞延展，孔洞尺寸沿着电流方向增大，电阻率呈降低趋势。喉道直径对电阻率的影响高于孔洞尺寸；喉道直径对全含水岩石电阻率的影响大于全含油，而岩石基质电阻率、地层水电阻率、孔洞延展方向及大小则相反。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高楚桥	长江大学地球物理与石油资源学院	30	171	8.0	12.0
2	张兆辉		18	99	5.0	9.0
3	高永德		4	15	3.0	3.0