星用微波组件低气压放电与真空微放电效应研究

• 作者: 刘中华 李树杰
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 星用微波组件 低气压放电 真空微放电 电子二次倍增效应
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TN12|TN61
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.04.002

摘要

低气压放电效应与真空微放电效应(亦被称为电子二次倍增效应)是装载在航空器或航天器上的星用微波组件在上天过程中与正常定轨后工作所要经历的两个阶段,经历发射至定轨工作的全过程(亦被称为入轨)的星用微波组件要经历低气压放电的考验,而对定轨后运行的星用微波组件则要经受真空微放电的考验.其放电机理和环境条件各异,两种环境试验不具有互换性,对此进行了研究;并对低气压放电与真空微放电提出了相应的防护措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘中华	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	20	3.0	4.0
5	李树杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	15	2.0	3.0