钛硅分子筛晶胞参数计算方法研究

• 作者: 向彦娟 忻睦迪 郑爱国 黄南贵
• 来源期刊: 石油炼制与化工
• 关键词: X射线衍射 Rietveld拟合 晶胞参数 TS-1
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 催化剂
• 页码范围: 35-40
• 页数: 6页
• 字数: 2950字
• 语种: 中文

摘要

利用X射线衍射技术(XRD)对钛含量不同的系列钛硅分子筛(TS-1)的晶体结构进行研究.通过调节XRD测试的仪器参数,确定了最优试验条件,建立了利用Rietveld全谱拟合计算钛硅分子筛晶胞参数的方法.通过计算发现:原料中钛摩尔分数低于2.5％时制备的分子筛的晶胞参数随钛含量增加呈线性增加,推断分子筛制备时部分钛进入骨架;原料中钛摩尔分数为2.5％～8.0％时制备的分子筛的晶胞参数基本不变,推断制备时钛摩尔分数高出2.5％的部分不再进入分子筛骨架.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑爱国		14	41	3.0	5.0
2	黄南贵		5	61	4.0	5.0
3	忻睦迪		4	7	2.0	2.0
4	向彦娟		5	6	2.0	2.0