X射线衍射法测定分子筛硅铝比与结晶度

• 作者: 储刚 刘发起 沈春玉
• 来源期刊: 抚顺石油学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶胞参数 结晶度 NaY分子筛 硅铝比
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 石油化工
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.22
• 字数: 2680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6952.2002.04.010

摘要

用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度,经晶胞参数与29Si、 27Al固体魔角核磁共振谱仪测定NaY分子筛骨架中的硅铝比关联的经验公 式,得到的X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的分析方法,以便满足NaY分子筛骨架中硅铝比测定工作的需要.结果表明,测定NaY分子筛硅铝比、晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理,使其饱和吸水.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	储刚	辽宁石油化工大学石油化工学院	69	378	10.0	15.0
2	沈春玉	辽宁石油化工大学石油化工学院	24	163	6.0	12.0
3	刘发起	辽宁石油化工大学石油化工学院	7	68	3.0	7.0