一种新型的表面深度测量系统

• 作者: 余桂英 叶怀储 潘璐 王志强 裘越 陈欢
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 工学
• 关键词: 表面深度检测 可调光路 多点标定
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表/检测/监控
• 页码范围: 103-106
• 页数: 4页
• 分类号: TH741
• 字数: 1522字
• 语种: 中文

摘要

针对表面深度测量,设计了一种新型小型化检测系统,能够检测物体表面的深度信息.该系统硬件部分以激光线结构光作为光源,设计可调节光路,应用CMOS图像传感器采集图像.软件部分利用VC++设计应用软件,完成图像预处理、参数标定和求取深度参数.应用最小二乘法对系统进行全局多点标定,试验结果表明,全局多点标定的表面深度测量结果比以往的单点标定更加准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余桂英		42	334	9.0	17.0
2	叶怀储		12	50	4.0	6.0
3	陈欢		12	25	3.0	4.0
4	裘越		11	20	3.0	3.0
6	潘璐		6	9	2.0	2.0
9	王志强		2	4	2.0	2.0