葡萄糖水平对CEES染毒16 HBE细胞能量代谢的影响及其机制

• 作者: 但国蓉 叶枫 王健 赵吉清 赵远鹏 邹仲敏
• 来源期刊: 军事医学
• 学科: 医学
• 关键词: 葡萄糖 半硫芥 能量代谢 线粒体
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 169-173
• 页数: 5页
• 分类号: R827.12
• 字数: 4343字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7644/j.issn.1674-9960.2014.03.003

摘要

目的：比较在高糖和低糖培养条件下，经半硫芥（CEES）染毒后支气管上皮细胞（16HBE）能量代谢的变化。方法采用高糖（4．5 mg/ml）和低糖（1．1 mg/ml）两种不同培养基培养16HBE细胞。 MTS法比较细胞增殖和CEES染毒后6 h细胞活性差异；用不同剂量CEES染毒两组细胞，24 h后HPLC检测胞内ATP、ADP、AMP含量，并计算ATP/ADP比值、腺苷酸池（总腺嘌呤核苷酸， total adenine nucleotides ， TAN）及能荷值（能量负荷值，energy charge， EC），Western印迹检测线粒体能量代谢功能酶COX-10和ISCU变化；流式细胞仪检测0．5 mmol/L CEES染毒后5、8、12、24 h时相点线粒体膜电位（MMP）变化。结果低糖培养的16HBE细胞的增殖明显增加，能量代谢指标ADP、TAN、COX-10和ISCU显著高于高糖组。高于0．5 mmol/L染毒剂量的CEES能显著降低高糖、低糖培养的16HBE细胞的活性，且在1．0 mmol/L下两组间差异有显著意义。高糖组在0．5、1．0 mmol/L染毒24 h后，ATP、ADP、TAN显著增高，而ATP/ADP比值及EC显著降低。低糖组在1．0 mmol/L染毒24 h后，ADP、AMP、TAN显著低于染毒前，而ATP/ADP比值及EC显著高于染毒前。在0．5 mmol/L CEES染毒下，高糖组线粒体膜电位在8～12 h显著增加，其后至24 h时恢复至正常水平。低糖组MMP在5 h有一过性显著降低，8 h后与染毒前已无显著差异。高糖培养时，16HBE细胞的氧化磷酸化相关蛋白COX-10和ISCU蛋白水平显著低于低糖培养的细胞；0．5～1．0 mmol/L CEES染毒24 h后，两者的水平显著升高，与低糖组已无显著差异。1．0 mmol/L CEES染毒24 h后，低糖组COX-10和ISCU水平显著降低。结论糖浓度差异会影响16 HBE细胞的能量代谢、增殖和CEES损伤后能量应激反应。高糖可能通过增加细胞的应激反应能力抵抗CEES的细胞毒性作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	但国蓉	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	20	65	5.0	7.0
2	王健	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	200	1066	16.0	22.0
3	叶枫	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	18	79	4.0	8.0
4	赵远鹏	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	18	51	4.0	6.0
5	邹仲敏	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	57	215	7.0	11.0
6	赵吉清	第三军医大学军事预防医学院毒理学研究所	38	100	6.0	6.0