直流氧化锌压敏电阻老化过程的研究

• 作者: 冯凯 刘琦 张利华 赵军
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 直流氧化锌压敏电阻 老化劣化 肖特基势垒 离子迁移
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: TM862
• 语种: 中文

摘要

为了分析直流氧化锌压敏电阻的老化性能及其试验方法,根据氧化锌压敏电阻的老化机理,结合双肖特基势垒和电子迁移理论,提出了直流氧化锌压敏电阻的老化劣化与其直流电压及冲击电流极性有关.通过针对同一型号多个压敏电阻进行的大量实验证明:长期承受直流工作电压及同极性的冲击电流冲击会使压敏电阻老化加速,反之其老化程度明显降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵军		5	59	4.0	5.0
2	刘琦		1	0	0.0	0.0
3	张利华		4	16	1.0	4.0
4	冯凯		1	0	0.0	0.0