基于电子散斑干涉技术的微变形场测量及残余应力分析

• 作者: 万云 何宁 李亮 杨吟飞 陈玲玲
• 来源期刊: 机械制造与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 电子散斑干涉 残余应力 盲孔法 应力测量
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 信息技术/Information Technology
• 页码范围: 144-146
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 字数: 1733字
• 语种: 中文

摘要

基于电子散斑干涉原理搭建了测量试验平台，通过数字图像处理，得到电子散斑干涉条纹图像，实现了对一维微变形场的测量，对比测量结果与仿真结果，验证了该测量方法的可行性。结合盲孔法测量残余应力的原理，用电子散斑干涉装置取代盲孔法中的应变花来测量因钻孔产生的变形，并由此解残余应力。试验结果表明，基于电子散斑干涉技术的盲孔法残余应力测量系统简单，可行，高效，具有很大的工程应用价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宁	南京航空航天大学机电学院	177	3097	32.0	49.0
2	李亮	南京航空航天大学机电学院	200	2140	25.0	36.0
3	杨吟飞	南京航空航天大学机电学院	51	275	10.0	14.0
4	万云	南京航空航天大学机电学院	2	16	2.0	2.0
5	陈玲玲		1	7	1.0	1.0