智能卡性能检测方法研究

• 作者: 冯志新 吴舜娟 尹文化 陈燕
• 来源期刊: 合成材料老化与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 智能卡 检测方法 趋势 新检测项目
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 专论与综述
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: TQ327.9
• 字数: 3759字
• 语种: 中文

摘要

简单概述了智能卡标准的测试方法，并讨论智能卡在现有复杂环境中，其使用寿命及理化性能检测方法。从智能卡的实际应用和新技术发展趋势考虑，建议开展标准检测方法以外的新检测项目。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴舜娟		6	5	1.0	1.0
2	冯志新		10	60	4.0	7.0
3	陈燕		8	19	2.0	4.0
4	尹文化		1	2	1.0	1.0