基于FPGA的智能卡验证平台设计

• 作者: 于忠臣 陈博
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: 智能卡 验证 FPGA
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 11-13,17
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 4597字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路设计技术的发展和芯片集成度的提高，验证已经成为芯片设计流程中的主要瓶颈。本文设计了一个基于FPGA的智能卡验证平台，并对验证方法做了详细阐述。本文对于双界面智能卡芯片验证的成功实践，不仅是对FPGA验证理论的证实，而且验证的思路和方法对其他芯片有一定的指导意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于忠臣	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	38	77	4.0	8.0
2	陈博	北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室	6	29	1.0	5.0