采用双调制方式测量消光比参数

• 作者: 吴易明 李春艳 肖茂森 陆卫国 高立民
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 偏振光 磁光调制 光源调制 消光比 偏振棱镜
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 582-587
• 页数: 6页
• 分类号: O436.3|TB96
• 字数: 2942字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20142203.0582

摘要

提出了一种采用磁光调制与光源调制技术高精度测量偏振棱镜消光比参数的方法并建立了相应的消光比测量系统.首先,根据偏振光的琼斯矩阵描述方式推导了系统的测量模型;采用磁光调制方式,实现了待测偏振棱镜晶体光轴与起偏器晶体光轴夹角的高精度定位.然后,采用光学斩波器对光源进行方波调制,消除了各种噪声对系统测量精度的影响,使得系统在待测偏振棱镜实现光轴精确定位后能够准确测量光强值.最后,对待测偏振棱镜进行了多次测量并求取平均值.实验结果显示,对偏振棱镜消光比参数的测量精度为10-6,验证了提出方法的有效性和稳定性.该系统精度高、稳定性好、容易实现工程化,对偏振器件的性能检验和实际应用具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高立民	中国科学院西安光学精密机械研究所	46	617	13.0	23.0
2	吴易明	中国科学院西安光学精密机械研究所	30	243	10.0	14.0
3	陆卫国	中国科学院西安光学精密机械研究所	18	94	5.0	8.0
4	李春艳	中国科学院西安光学精密机械研究所	11	57	5.0	7.0
8	肖茂森	中国科学院西安光学精密机械研究所	11	64	4.0	7.0