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摘要:
针对现有弹光调制器(photoelastic-modulator ,PEM )的调制频率高(几十kHz以上),调制干涉信号频率更高,普通阵列探测器无法有效采集,提出了一种基于双弹光调制器拍频调制和傅里叶-贝塞尔(Fourier-Bessel)变换的光谱测量方法,并结合CCD成像技术构成新型双弹光调制成像光谱技术(dual-photo-elastic-modulator-based imaging spectrometer ,Dual-PEM-IS)。该方法将双弹光调制器分别工作在数值略有差异的频率上,以对光进行拍频调制,并产生载有被测光的低频调制分量(比驱动频率小2~3个数量级,普通CCD可实现探测),通过对调制信号中的低频成分进行 Fourier-Bessel变换可得到目标光谱,使得弹光调制兼具了成像和光谱测量能力。介绍了其原理并推导出光谱反演公式,并通过仿真和实验验证其可行性,分析了光程差的微小偏差对反演光谱造成的影响,为进一步工程化实现提供了必要的理论基础。
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 双弹光拍频调制型Fourier-Bessel变换成像光谱技术研究
来源期刊 光谱学与光谱分析 学科 物理学
关键词 双弹光调制 成像光谱 傅里叶-贝塞尔变换 拍频
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 569-573
页数 5页 分类号 O436.3
字数 2998字 语种 中文
DOI 10.3964/j.issn.1000-0593(2014)02-0569-05
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双弹光调制
成像光谱
傅里叶-贝塞尔变换
拍频
研究起点
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期刊影响力
光谱学与光谱分析
月刊
1000-0593
11-2200/O4
大16开
北京市海淀区学院南路76号钢铁研究总院
82-68
1981
chi
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