X射线荧光光谱法测定铝锂合金中多元素含量

• 作者: 代以春 杨金芳 林良栋 江学强 沈叶青 田伦富 邹德霜
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 铝锂合金 基体效应校正 元素分析
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 页码范围: 52-56
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.issn.1000-7571.2014.10.010

摘要

选择铝锂合金系列标样建立校准曲线,通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰,结果表明,校正后多数元素校准曲线的标准偏差(SD)和品质因子(K)变得更小,曲线的离散度降低,线性关系得到较大改善,由此建立了波长色散X射线荧光光谱法测定铝锂合金中Mg、Si、Ti、Cr、Zr、Fe、Cu、Zn、Mn等9种元素含量的新方法.各元素的检出限均低于4.5 μg/g.对E986铝锂合金标准样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.9％;对铝锂合金实际样品进行分析,测定值与湿法及火花源原子发射光谱法的测定值吻合较好,能够满足铝锂合金中各元素的检测要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹德霜	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	15	38	4.0	6.0
2	林良栋	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	5	31	4.0	5.0
3	江学强	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	17	99	4.0	9.0
4	代以春	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	10	14	3.0	3.0
5	沈叶青	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	2	3	1.0	1.0
6	杨金芳	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	3	7	2.0	2.0
7	田伦富	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所	7	9	2.0	2.0