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摘要:
提出了一种基于二次离子质谱分析技术的离子束流剖面分布的离线诊断方法,具有分辨率高、可同时给出束流剖面分布和成分信息的特点.利用数值模拟方法对该诊断方法的可行性进行了分析和讨论,并结合原理实验给出了验证结果.结果表明:该方法可以用于真空密封型中子发生器离子束流剖面分布的诊断,能够成为其他诊断方法的验证手段和有力补充.
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文献信息
篇名 离子束流剖面分布离线诊断方法探索
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 真空密封型中子发生器 真空弧离子源 束流剖面 二次离子质谱分析
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 粒子束技术
研究方向 页码范围 41-45
页数 5页 分类号 O463.2
字数 3662字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201426.044001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 石金水 中国工程物理研究院流体物理研究所 68 304 10.0 13.0
2 杨振 中国工程物理研究院流体物理研究所 12 17 2.0 3.0
3 龙继东 中国工程物理研究院流体物理研究所 29 44 4.0 5.0
4 蓝朝晖 中国工程物理研究院流体物理研究所 12 26 3.0 4.0
5 李杰 中国工程物理研究院流体物理研究所 14 46 5.0 6.0
6 刘平 中国工程物理研究院流体物理研究所 19 25 3.0 4.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
真空密封型中子发生器
真空弧离子源
束流剖面
二次离子质谱分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
9833
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61664
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