单光栅与双光栅衍射角度检测对比分析

• 作者: 李平 母一宁 王贺
• 来源期刊: 红外与激光工程
• 学科: 工学
• 关键词: 增量式 光栅副 莫尔条纹
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 光电材料与器件
• 页码范围: 1616-1620
• 页数: 5页
• 分类号: TN929.1
• 字数: 2594字
• 语种: 中文

摘要

光栅副是增量式光电编码器最主要组成部分，它的结构和衍射效应直接与检测精度相关。文中深入地分析了单光栅与双光栅衍射特点，并且从空间调制模型的角度推导光栅副对莫尔条纹的影响。从宏观和微观两个角度分析光栅副的屏函数，研究莫尔条纹光电信号输出波形的不确定原因和反差对比度，进而证明单光栅测量可以减少输出信号的频率成分，获得较高的细分精度和反差对比度。为了证明单光栅角度检测的可行性，给出了一套完整的单光栅角度检测方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	母一宁	长春理工大学理学院	38	163	8.0	10.0
2	李平	长春理工大学计算机科学学院	31	167	8.0	11.0
3	王贺	长春理工大学计算机科学学院	15	112	6.0	10.0