基于OCT技术对古代瓷釉断面结构特征的初步研究

• 作者: 严鑫 李青会 胡永庆 董俊卿 郭木森
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 光学相干层析 无损成像 瓷釉
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 195-200
• 页数: 6页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201441.0908001

摘要

为了验证将光学相干层析(OCT)成像技术应用于古代陶瓷无损检测,将OCT图像表现的釉面的断面特征用于古代陶瓷类别区分的可行性,利用宽波长频域OCT成像系统对选自5个窑口的8个不同釉系、色系的瓷片进行测试,得到了样品的断面结构图像,并分析了OCT图像中的气泡大小和分布、强散射颗粒分布、釉层均匀性、透射率、釉层的分层等特征.实验结果显示8个古代瓷釉样品OCT成像特征差异明显,说明OCT成像技术能基于断层图像特征对瓷釉的釉系、窑口进行区分.