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摘要:
中子反射谱仪是用于精确获取薄膜样品微观结构信息的有效手段之一.中子反射谱仪在建成后以及后期的实验中,通常需要进行中子反射谱仪实验参数标定,从而提高实验精度.本文介绍了中子反射实验常用的标定方法,并对标定误差进行了理论分析;采用几何光学方法对部分实验参数的理论计算方法进行了探讨分析,可为中子反射实验标定提供参考.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 中子反射实验常用标定方法
来源期刊 现代科学仪器 学科 工学
关键词 中子 反射实验 参数标定 方法
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目 综述与评论
研究方向 页码范围 12-16
页数 分类号 TL817+.9
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李新喜 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 26 50 4.0 5.0
5 王云 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 33 33 4.0 5.0
6 黄朝强 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 36 52 4.0 5.0
10 王燕 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 23 28 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
中子
反射实验
参数标定
方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代科学仪器
双月刊
1003-8892
11-2837/TH
大16开
北京海淀区西三环北路27号理化实验楼512室
1984
chi
出版文献量(篇)
4906
总下载数(次)
12
总被引数(次)
20682
论文1v1指导