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摘要:
作为一种新的宽禁带半导体材料,氧化锌的能带间隙为3.37eV,在光学、电学、光催化、太阳能电池制造方面表现出了更优良的性能,是一种良好的可替代宽禁带半导体.当然氧化锌存在着许多固有缺陷而影响了它的性能,离子的掺杂是一种有效的改性方法.着重介绍离子的掺杂对氧化锌性能的作用的机理过程和研究现状,并对其未来的发展趋势进行可行性的预见.
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文献信息
篇名 纳米ZnO掺杂及性能研究新进展
来源期刊 化工新型材料 学科
关键词 氧化锌 纳米 掺杂 光催化
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 开发与应用
研究方向 页码范围 172-174
页数 3页 分类号
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 方莹 56 390 11.0 17.0
2 李镇 31 173 8.0 12.0
3 徐坤 5 9 1.0 3.0
4 苏照伟 4 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
氧化锌
纳米
掺杂
光催化
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化工新型材料
月刊
1006-3536
11-2357/TQ
大16开
北京安定门外小关街53号
82-816
1973
chi
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