基于控制流检测的抗错误注入攻击方法

• 作者: 刘恺 廖望 戴葵 黄威
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 控制流检测 错误注入 安全芯片 基本块 签名 校验
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 58-62,66
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

提出了基于控制流检测的抗错误注入攻击,该方法对传统控制流检测技术进行了改进,设计了基于基本块签名和基本块校验的控制流检测算法,解决了传统控制流检测算法的盲区问题,将该方法应用于安全芯片设计,即使在错误注入成功的情况下,也能检测出来.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴葵	华中科技大学光学与电子信息学院	26	129	6.0	9.0
2	黄威	华中科技大学光学与电子信息学院	11	39	3.0	6.0
3	刘恺	华中科技大学光学与电子信息学院	4	19	3.0	4.0
4	廖望	华中科技大学光学与电子信息学院	3	16	3.0	3.0