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摘要:
电磁脉冲( EMP )对电子设备构成严重威胁,研究电子设备HEMP效应是电磁兼容与电子设备安全领域的迫切需求。多层金属腔体是电子设备较为常见的一种结构形式,以一种带贯通导线的双层金属腔体为研究对象,基于时域有限差分方法( FDTD)建立计算模型,分析计算了贯通导线在高空核爆电磁脉冲( HEMP )入射波作用下对腔体内电路的耦合效应。仿真结果表明,贯通导线能将入射脉冲能量耦合进腔体内部,使内电路负载产生感应电流,当入射电场与贯通导线平面相互平行时影响较大,但相互垂直时仍会耦合一部分能量。所得结论可为多层腔体的电磁防护设计提供依据。
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文献信息
篇名 双层金属腔体贯通导线HEMP耦合特性分析
来源期刊 无线电工程 学科 工学
关键词 高空核爆电磁脉冲 时域有限差分方法 贯通导线 耦合
年,卷(期) 2014,(12) 所属期刊栏目 电磁场与微波
研究方向 页码范围 55-58
页数 4页 分类号 TJ91
字数 1991字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 许凯 中国电子科技集团公司第五十四研究所 3 2 1.0 1.0
2 赵煜 中国电子科技集团公司第五十四研究所 5 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
高空核爆电磁脉冲
时域有限差分方法
贯通导线
耦合
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
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无线电工程
月刊
1003-3106
13-1097/TN
大16开
河北省石家庄市174信箱215分箱
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1971
chi
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