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精益定制助力高效测试测量系统架构
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国外电子测量技术
主办单位：
北京方略信息科技有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1002-8978
CN：
11-2268/TN
开本：
大16开
出版地：
北京东城区北河沿大街79号2楼
邮发代号：
82-141
创刊时间：
1982
语种：
chi
出版文献量（篇）
5838
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16
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