自由电子激光相干强太赫兹源装置鬼脉冲初步研究

• 作者: 代志力 刘宇 吴岱 李凯 李鹏 肖德鑫
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 自由电子激光 太赫兹源 鬼脉冲 电子束壁损失 热效应 辐射防护
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 太赫兹技术
• 页码范围: 181-185
• 页数: 5页
• 分类号: TL53
• 字数: 2028字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB201426.033102

摘要

研究中国工程物理研究院自由电子激光相干强太赫兹源(FEL-THz)装置上鬼脉冲产生的原因及其对装置调试测量的影响,通过束流动力学模拟、热分析、蒙特卡罗模拟以及初步实验结果分析,证明了鬼脉冲将会明显破坏阻拦型测量,并会在束线管道上造成温度升高和辐射强度增大.研究表明:鬼脉冲成为限制FEL-THz装置正常工作的重要原因,为保证FEL-THz顺利出光,鬼脉冲必须予以消除,并简要讨论了鬼脉冲的消除方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宇	中国工程物理研究院应用电子学研究所	12	80	5.0	8.0
2	吴岱	清华大学工程物理系	3	3	1.0	1.0
6	肖德鑫	中国工程物理研究院应用电子学研究所	11	15	2.0	3.0
7	代志力	中国工程物理研究院应用电子学研究所	2	2	1.0	1.0
8	李鹏	中国工程物理研究院应用电子学研究所	14	26	3.0	4.0
9	李凯	中国工程物理研究院应用电子学研究所	14	36	3.0	5.0