烧结密封电连接器插针断裂原因分析

• 作者: 于慧敏 李文阳 韩继先
• 来源期刊: 新技术新工艺
• 学科: 工学
• 关键词: 烧结 电连接器 插针 断裂 原因
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 质量与检测
• 页码范围: 132-135
• 页数: 4页
• 分类号: TM207
• 字数: 3452字
• 语种: 中文

摘要

介绍了烧结密封电连接器的产品结构，利用红外吸收光谱分析、离子色散光谱分析和扫描电镜能谱分析方法，对烧结密封电连接器的腐蚀产物、插针表面和断裂表面进行分析，确定了插针断裂故障的原因。通过对电连接器的生产过程、产品结构和使用环境进行描述，分析了导致插针发生腐蚀的原因。着重论述了插针表面处理过程对其产生的影响，排除了有机硅橡胶的硫化产物对插针的腐蚀，指出了界面效应的存在和产品在使用中应考虑大气腐蚀问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于慧敏		25	24	2.0	3.0
2	韩继先		21	22	2.0	2.0
3	李文阳	驻一一七厂军事代表室	5	7	2.0	2.0