毫米波在SiO2基底材料中的传播特性

• 作者: 余俊宏 冷健 刘华松 季一勤 庄克文
• 来源期刊: 红外与激光工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 红外/毫米波 物理厚度 厚度偏差
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 笠激光与光电子技术应用笠
• 页码范围: 1145-1149
• 页数: 5页
• 分类号: O436.1
• 字数: 2518字
• 语种: 中文

摘要

红外/毫米波分频器件是红外/毫米波复合探测系统的关键器件之一。利用电磁波干涉理论计算和分析了介质材料特征参数对毫米波透射、反射和吸收性能的影响。针对工作频率为35 GHz的电磁波，给出了介质材料厚度设计的准则，分析了SiO2材料不同物理厚度和物理厚度偏差对毫米波传输性能的影响。分析结果表明：基底物理厚度越大，基底物理厚度偏差对毫米波透射、反射和吸收性能的影响就越大，要求也越精确。对红外/毫米波分频器件的设计有一定的参考价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冷健	天津市薄膜光学重点实验室天津津航技术物理研究所	3	3	1.0	1.0
2	季一勤	天津市薄膜光学重点实验室天津津航技术物理研究所	3	2	1.0	1.0
3	刘华松	天津市薄膜光学重点实验室天津津航技术物理研究所	4	3	1.0	1.0
4	庄克文	天津市薄膜光学重点实验室天津津航技术物理研究所	3	3	1.0	1.0
5	余俊宏	天津市薄膜光学重点实验室天津津航技术物理研究所	1	0	0.0	0.0