电子测试系统中VXI总线接口技术研究分析

• 作者: 杨艳红 熊强强
• 来源期刊: 商
• 关键词: 测试系统 VXI 总线接口技术 性能指标
• 年，卷（期）: 2014,（48）
• 所属期刊栏目: 财经纵览 -- 信息传媒
• 页码范围: 149-149
• 页数: 1页
• 字数: 2179字
• 语种: 中文

摘要

在众多的电子产品中，测试系统作为一种普遍使用信息化电子产品，越来越引起了人们的关注。然而，随着科学技术的不断发展，它的最重要的技术组成接口部分也发生了翻天覆地的巨大变化，本文介绍了在目前常用的VXI型总线接口技术，并且对其的性能指标进行了详尽的分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨艳红		3	0	0.0	0.0
2	熊强强		20	36	4.0	5.0