编码孔径成像光谱仪光学放大率误差影响分析

• 作者: 刘扬阳 吕群波 裴琳琳 钱路路 马原
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 工学
• 关键词: 编码孔径 光学放大率 图谱重构
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 3157-3161
• 页数: 5页
• 分类号: TH744
• 字数: 2241字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2014)11-3157-05

摘要

编码孔径光谱成像技术是近年来发展起来的一种新型光谱成像技术，在一次像面采用特定的编码模板对目标进行编码，结合特殊的采样成像方式，获得满足景物重构的采样数据量，实现了空间信息和光谱信息的高精度重构，具有高光通量、高信噪比等优势。该技术在实现过程中，通常要求一次像面与最终探测器像面间满足既定的尺寸比例，但在实际的光学系统加工和装调过程中，由于加工和装调误差的存在，使得光学放大率与设计值间存在偏差，从而降低了编码图谱的采样精度，导致最终重构图谱质量降低。通过仿真不同光学放大率下编码模板的可逆范围及重构图像质量的分析，给出了图像质量与系统光学放大率之间的曲线关系，为编码孔径光谱成像仪的设计和研制提供了参考依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕群波	中国科学院光电研究院计算光学成像技术实验室	52	478	13.0	18.0
2	马原	中国科学院光电研究院计算光学成像技术实验室	8	44	4.0	6.0
6	刘扬阳	中国科学院光电研究院计算光学成像技术实验室	19	143	7.0	11.0
7	钱路路	中国科学院光电研究院计算光学成像技术实验室	4	31	4.0	4.0
8	裴琳琳	中国科学院光电研究院计算光学成像技术实验室	11	42	4.0	6.0