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摘要:
根据布拉格衍射定律和晶层模型,推导了透射式柱面弯晶谱仪的三维衍射光路的理论公式,并利用该理论研究了谱仪测量光谱的能量刻度问题。在考虑了实验中谱仪与光源的准直度和记录介质放置姿态带来的误差后,发现利用多种滤片的K吸收边进行公式拟合得到弯晶谱仪能量刻度曲线的方法对低能 X射线谱线的误差较大,进而提出了用单滤片通过理论公式模拟计算进行谱仪能量刻度的方法。通过对透射式柱面弯晶谱仪测量到的 Ag靶 X光机的实验光谱进行能量刻度,实现了用单滤片在线定标弯晶谱仪,验证了理论公式和能量刻度方法的正确性。
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文献信息
篇名 透射式柱面弯晶谱仪的单滤片能量刻度方法
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 透射式弯晶谱仪 柱面弯晶 三维衍射光路 能量刻度 硬 X射线诊断
年,卷(期) 2014,(10) 所属期刊栏目 ICF 与激光等离子体
研究方向 页码范围 102006-1-102006-7
页数 1页 分类号 O434.13
字数 4085字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201426.102006
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透射式弯晶谱仪
柱面弯晶
三维衍射光路
能量刻度
硬 X射线诊断
研究起点
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期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
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7
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