基于荧光磁粉图像的缺陷检测技术

• 作者: 刘桂华 初延亮 张华 肖宇峰
• 来源期刊: 微型机与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 荧光磁粉检测 加权模板 自适应邻域选择 Ridler 自适应阈值
• 年，卷（期）: 2014,（20）
• 所属期刊栏目: 图形、图像与多媒体
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 分类号: TP751.1
• 字数: 2797字
• 语种: 中文

摘要

荧光磁粉无损检测因具有缺陷显示直观、灵敏度高、检测速度快且成本低等优点而被广泛采用。在分析工件表面缺陷的荧光磁粉图像显示特性基础上，研究缺陷图像的平滑去噪和分割等处理算法，提出基于加权模板和自适应邻域选择的图像平滑算法，并将 Ridler 自适应阈值法应用于缺陷图像分割。实验结果表明，此种方法能够很好地去除伪缺陷，将图像中工件的真实缺陷从背景区域中完整地提取出来，为荧光磁粉自动化无损检测打下良好的基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张华	西南科技大学信息工程学院特殊环境机器人技术四川省重点实验室	193	1226	16.0	25.0
2	刘桂华	西南科技大学信息工程学院特殊环境机器人技术四川省重点实验室	75	350	9.0	13.0
3	肖宇峰	西南科技大学信息工程学院特殊环境机器人技术四川省重点实验室	40	125	6.0	8.0
4	初延亮	西南科技大学信息工程学院特殊环境机器人技术四川省重点实验室	1	5	1.0	1.0