X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量

• 作者: 邓飞 韩亮 马青兰
• 来源期刊: 甘肃科技
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 压片法 钼矿
• 年，卷（期）: 2014,（15）
• 所属期刊栏目: 资源环境
• 页码范围: 39-40,12
• 页数: 3页
• 分类号: O657|P618.65
• 字数: 1897字
• 语种: 中文

摘要

采用粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法测量钼矿石中的钼含量.直接粉末压片制样,利用系列标样制作出标准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正.方法准确度、精密度能满足钼矿石(钼含量1％以下)中钼含量的测定.与化学法相比,本方法分析过程简单快速,精密度高,有更低的检出限.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓飞	中国冶金地质总局第三地质中心实验室	2	0	0.0	0.0
2	韩亮		4	4	1.0	1.0
3	马青兰		2	2	1.0	1.0