基于影响度的光电测量设备测试性验证试验样本抽取方法

• 作者: 何洋 张凯 李洪涛
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 光电测量设备 测试性验证 影响度 功能模块-故障信息模型 样本抽取
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 通信与信息技术 -- 军事通信
• 页码范围: 31-34,37
• 页数: 5页
• 分类号: TN965-34
• 语种: 中文

摘要

为解决目前光电测量设备测试性验证试验中，因样本抽取方法不合理导致试验结论可信度低的问题，通过考虑危害度和故障扩散强度这两个与测试性相关的重要因素，提出了影响度的概念。从功能特征出发，构建功能模块-故障信息模型，利用该模型提出了基于影响度的样本抽取方法并给出试验抽取流程。此方法依据影响度相对比率，随机抽取出被测单元的故障样本，可较好地提高样本集代表性，确保试验结论置信度。并以某型光电测量设备中的时统终端单元为例，利用基于影响度的方法进行样本抽取，比较分析抽取结果证明该方法有效可行。