FPGA核心系统自检设计

• 作者: 盛锐
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: FPGA 核心系统 自检
• 年，卷（期）: 2014,（15）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 130-130
• 页数: 1页
• 字数: 1825字
• 语种: 中文

摘要

自检是指通过设备和系统内部的程序对主要部分进行自动测试，并定位故障。自检功能可以减少故障检测的时间，提高检测的效率，是提高系统可靠度的必要手段。本文根据FPGA核心系统的结构特点，设计了FPGA核心系统的自检方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	盛锐		1	4	1.0	1.0