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电子产品可测试性与可制造性设计
电子产品可测试性与可制造性设计
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摘要：
随着电子制造行业的迅猛发展与市场竞争的日益激烈，产品质量的重要性愈发突出。本文重点提出面向质量的DFT和DFM设计方法，并应用它来提高产品可测试性和可制造性，提高测试和生产效率，最终达到提高产品质量的目的。
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研究主题发展历程
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DFX
可测试性设计
可制造性设计
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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