SDRAM存储芯片内存单元自动化测试程序设计

• 作者: 张东磊 梁晓芳 韦浩睿
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: SDRAM 自动化测试 设计
• 年，卷（期）: 2014,（14）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 189-189,190
• 页数: 2页
• 字数: 3072字
• 语种: 中文

摘要

SDRAM的同步动态存储可流水线操作指令，体现实时和省时的特点，但其本身存在的掉电数据丢失的缺点使得其在应用中进行SDRAM存储芯片内存单元读写的测试非常重要，否则可导致装置无法正常工作。本文就SDRAM存储芯片与ARM芯片配合使用的自动化测试进行详细阐述。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东磊	许继电源有限公司中试部软件测试科	4	8	2.0	2.0
2	韦浩睿	许继电源有限公司中试部软件测试科	4	4	1.0	2.0
3	梁晓芳	许继电源有限公司中试部软件测试科	2	4	1.0	2.0