嵌入式终端设备的一种自动化测试技术

• 作者: 吕金华 韦卉
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 嵌入式系统 自动化测试 U模型
• 年，卷（期）: 2014,（13）
• 所属期刊栏目: 探索与观察
• 页码范围: 12-12
• 页数: 1页
• 字数: 1947字
• 语种: 中文

摘要

本文主要探讨一类嵌入式终端设备的自动化测试技术。鉴于嵌入式软件依赖硬件运行的特殊性，本文提出一种自动化测试的模型--U模型，本模型提供了嵌入式系统自动控制和自动测试的一种解决方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦卉		2	0	0.0	0.0
2	吕金华		3	0	0.0	0.0