电涡流检测导电平板裂纹缺陷的有限元仿真研究

• 作者: 张思全 齐川
• 来源期刊: 科技视界
• 关键词: 涡流检测 裂纹缺陷 有限元仿真 磁感应强度
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 项目与课题
• 页码范围: 48-48,81
• 页数: 2页
• 字数: 2182字
• 语种: 中文

摘要

为了研究裂纹缺陷的深度对检测结果的影响，本文基于Ansoft Maxwell 3D涡流场分析的方法，建立了涡流检测系统模型，以裂纹深度为变量，使激励线圈在导电平板上方沿裂纹垂直方向进行扫描仿真，得到了激励线圈的磁力线分布和导电平板的电涡流密度分布，并分析不同的裂纹深度对磁感应强度的影响。结果表明：当激励线圈接近导电平板裂纹时，磁感应强度会发生变化，裂纹越深，其变化越大。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张思全	上海海事大学物流工程学院	10	25	3.0	5.0
2	齐川	上海海事大学物流工程学院	3	8	2.0	2.0