基于RFID供应链的双轨迹克隆检测方法

• 作者: 刘宴兵 李香
• 来源期刊: 重庆邮电大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: RFID 供应链 克隆检测 双轨迹
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 计算机与自动化
• 页码范围: 111-116
• 页数: 6页
• 分类号: TP393
• 字数: 4852字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3979/j.issn.1673-825X.2015.02.019

摘要

针对传统基于射频识别技术(radio frequency identification,RFID)的克隆检测方法面对供应链动态变化、标签误读的局限性,提出一种简单、有效的基于轨迹的克隆检测方法.该方法通过在标签中写入验证序列,使得随着标签随产品在供应链中流动,正版标签和克隆标签因验证序列的不断更新而出现不同,而且标签中的验证序列随时间变化会呈现一定的规律,于是形成一条序列轨迹,结合标签事件信息中业务动作的一致性形成2条轨迹,即双轨迹.该方案通过评估2条轨迹的正确性来发现克隆,在评估克隆存在时充分考虑了标签误读、误写、事件丢失以及错误运输.使用Arena对供应链进行建模和仿真.仿真表明,该方案对供应链动态变化具有灵活性,同时在牺牲较小通信量的情况下,有效地提高了检测性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宴兵	重庆邮电大学网络与信息安全重庆市工程实验室	87	685	13.0	22.0
2	李香	重庆邮电大学网络与信息安全重庆市工程实验室	1	0	0.0	0.0