SWI在脑内铁过载中的应用

• 作者: 程双娟 肖江喜
• 来源期刊: 国际医学放射学杂志
• 关键词: 磁敏感加权成像 脑出血 铁过载 定量测量 动态监测
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 16-19,29
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3874/j.issn.1674-1897.2015.01.Z0103

摘要

磁敏感加权成像（SWI）是根据不同组织的磁敏感系数差异提供影像对比，在扫描过程中可以同时获得幅值和相位两组影像，通过定量测量信号值而对脑内的铁含量进行半定量测量，并且可以动态监测脑组织内铁含量的变化，其对铁的敏感性明显优于常规梯度回波序列。 SWI对于早期发现疾病、监测病情及指导治疗具有重要意义。就SWI检测脑内铁含量的原理、应用及前景予以综述。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖江喜	北京大学第一医院影像科	153	1513	21.0	31.0
2	程双娟	北京大学第一医院影像科	3	6	2.0	2.0