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摘要:
基于密度函数理论和广义梯度近似原理,计算了锑化镓(GaSb)体结构中的不同缺陷的形成能。计算结果表明,无论是在Ga-rich晶体条件下还是Sb-rich晶体条件下,主要的缺陷都是空位缺陷VGa和反应缺陷GaSb,这解释了GaSb在不同生长条件下总是P型半导体的原因。
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文献信息
篇名 第一性计算锑化镓中的缺陷态
来源期刊 江汉大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 第一性计算 锑化镓 缺陷态 形成能
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目 材料科学与机械工程
研究方向 页码范围 226-228
页数 3页 分类号 O471.4
字数 2232字 语种 中文
DOI 10.16389/j.cnki.cn42-1737/n.2015.03.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 侯群 江汉大学物理与信息工程学院 27 81 5.0 8.0
2 周一帆 江汉大学物理与信息工程学院 3 1 1.0 1.0
3 张龙 江汉大学物理与信息工程学院 7 15 2.0 3.0
4 彭馨 江汉大学物理与信息工程学院 4 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
第一性计算
锑化镓
缺陷态
形成能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
江汉大学学报(自然科学版)
双月刊
1673-0143
42-1737/N
大16开
武汉经济技术开发区江汉大学期刊社
1973
chi
出版文献量(篇)
2387
总下载数(次)
5
总被引数(次)
7420
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