基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法

• 作者: 周金帅 江柏红 江玉朗 高晓进
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 工学
• 关键词: 显微CT 孔隙率 灰度直方图 阈值分割
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 122-126
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2015.04.028

摘要

提出了一种基于显微CT技术的测量复合材料孔隙率的新方法,研究了C/C-SiC复合材料体积孔隙率测量原理,讨论了测量区域体积对测量结果的影响.研究结果表明,显微CT技术能够获取复合材料内部三维微观图像,通过灰度直方图阈值分割法能够较为精确测量C/C-SiC复合材料体积孔隙率,并且只有选择的测量体积范围超过一定值时才能获得较为精确的测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江柏红		8	14	3.0	3.0
2	高晓进		11	12	3.0	3.0
3	周金帅		7	9	2.0	3.0
4	江玉朗		3	5	1.0	2.0