一种全负载范围的谷底检测电路设计

• 作者: 何泽炜 李威 郭俊 韩雨衡
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 全负载范围 谷底检测 准谐振 开关电源 高精度
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 115-118
• 页数: 4页
• 分类号: TN433
• 语种: 中文

摘要

针对反激式开关电源拓扑，在基于前人对准谐振软开关研究的基础上，提出了一种简单实用的谷底检测电路，在全负载范围都能精确检测出谷底出现时刻，适用于谐振频率在一定范围变化的场合，方便外围拓扑设计．基于TSMC＿0．5μm BCD工艺，经Spectre仿真实验表明，在谐振频率低于2 M Hz不同负载情况下，能比较精确检测出谷底时刻（误差小于1‰）．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李威	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	49	283	8.0	14.0
2	何泽炜	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	3	1.0	1.0
3	郭俊	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	13	16	2.0	3.0
4	韩雨衡	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	4	11	2.0	3.0