SF6红外成像检漏技术在特高压带电检测中的应用

• 作者: 俞华 梁基重 王天正 芦竹茂 马丽强
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: SF6气体绝缘 检漏 红外成像 带电检测 特高压
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TM855
• 语种: 中文

摘要

介绍了SF6红外成像检漏技术的基本原理和在特高压运维检修中的应用案例,运用SF6红外成像检漏技术在设备不停电的状态下进行SF6气体检漏,并精确定位泄漏点.结果表明:在带电检测过程中,结合SF6气体密度继电器显示的压力变化,采用SF6红外成像检漏能有针对性地对设备进行检测,并提高检测效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞华	国网山西省电力公司电力科学研究院	29	76	4.0	7.0
2	王天正	国网山西省电力公司电力科学研究院	46	106	4.0	8.0
3	芦竹茂	国网山西省电力公司电力科学研究院	11	52	3.0	7.0
4	梁基重	国网山西省电力公司电力科学研究院	15	28	3.0	5.0
5	马丽强	国网山西省电力公司电力科学研究院	11	56	4.0	7.0