中能电子成像仪探头的设计

• 作者: 于向前 宗秋刚 杨成佳 许峰 贾向红 邹鸿
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 地球科学
• 关键词: 中能电子 投掷角 外辐射带 质子污染率
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 155-160
• 页数: 6页
• 分类号: P353
• 字数: 3572字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201527.014005

摘要

利用小孔成像原理对中能电子成像仪探头的机械结构进行了设计,为保证探头单元暴露于外辐射带辐射环境12年的总剂量小于5 krad,确定其壳体厚度为约3 mm的铜,探头的角分辨率为20°;根据带电粒子在硅中的能量损失规律对探测器进行了防质子污染设计,确定了探测器厚度为1000 μm,其屏蔽层厚度为10 μm等效硅.最后对设计探头的质子污染率进行了计算,结果表明该中能电子成像仪探头的设计满足外辐射带空间中能电子探测的需求,为中能电子成像仪的研制奠定了基础.