单膜光纤弯曲损耗的实验测量与分析

• 作者: 叶伏秋
• 来源期刊: 吉首大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤 工作波长 弯曲半径 弯曲损耗
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 【物理与电子】
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: O436|TN818
• 字数: 1665字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.cnki.jdxb.2015.03.007

摘要

测量了1310 nm和1550 nm波长下单膜光纤弯曲半径变化引起的弯曲损耗，分析比较了2种不同波长光和弯曲半径对弯曲损耗的影响。测量结果表明，弯曲损耗系数会随着弯曲半径的增大而减小，并且出现振荡现象。在弯曲半径较大时，弯曲损耗的变化比较平缓，1550 nm波长较1310 nm波长弯曲损耗更易产生，在弯曲半径较小时，弯曲损耗出现剧烈振荡，2种光波长对弯曲损耗的敏感程度交替变大。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶伏秋	吉首大学物理与机电工程学院	17	37	3.0	5.0